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2024-03-27
NanoScan2s系列狹縫掃描式光束分析儀,源自2010年加入OPHIR集團(tuán)的PHOTONINC。PHOTONINC自1984年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀,在光通訊、LD/LED測(cè)試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案。掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù),通過(guò)狹縫/小孔取樣激光光束的一部分,將取樣部分通過(guò)單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度,再通過(guò)掃描狹縫/小孔的位置,復(fù)原整個(gè)光斑的分布。掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn)掃描式光束分析儀...2024-03-21
NanoScan2sPyro/9/5熱釋電激光光束分析儀NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過(guò)其熱釋電探測(cè)器,精確捕獲和分析190nm-100µm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于大多數(shù)光束的狹縫和孔徑尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)任何波長(zhǎng)的激光進(jìn)行全面分析。光束尺寸20µm至~6mm功率級(jí)范圍為~5mW至~100WUSB2.0接口包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件PH00462NS2s-P...2024-03-21
NanoScan2sGe/9/5狹縫掃描式激光光束分析儀NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過(guò)其鍺探測(cè)器,精確捕獲和分析700nm-1800nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于大多數(shù)光束的孔徑尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)IR和NIR激光進(jìn)行全面分析。光束尺寸20µm至~6mm功率級(jí)范圍為~10nW至~10WUSB2.0接口包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件PH00460NS2s-Ge/9/5-STD...2024-03-21
NanoScan2sGe/3.5/1.8狹縫掃描式激光光束輪廓分析儀NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過(guò)其鍺探測(cè)器,精確捕獲和分析700nm-1800nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于小光束的孔徑尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)IR和NIR激光進(jìn)行全面分析。光束尺寸7µm至~2.3mm功率級(jí)范圍為~10nW至~10WUSB2.0接口包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件PH00459NS2s-Ge/3....2024-03-21
NanoScan2sSi/9/5狹縫掃描式激光光束輪廓分析儀NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過(guò)其硅探測(cè)器,精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于大多數(shù)光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。光束尺寸20µm至~6mm功率級(jí)范圍為~10nW至~10WUSB2.0接口包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件PH00457NS2s-Si/9...2024-03-21
NanoScan2sSi/3.5/1.8掃描式激光光束輪廓分析儀NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過(guò)其硅探測(cè)器,精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。光束尺寸7µm至~2.3mm功率級(jí)范圍為~10nW至~10WUSB2.0接口包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件PH00456NS2s-SI...2024-03-20
NanoScan2s狹縫掃描光束分析儀掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù),通過(guò)狹縫/小孔取樣激光光束的一部分,將取樣部分通過(guò)單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度,再通過(guò)掃描狹縫/小孔的位置,復(fù)原整個(gè)光斑的分布。掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn):取樣尺度可以到微米量級(jí),遠(yuǎn)小于CCD像素,可獲得較高的空間分辨率而無(wú)需放大;?采用單點(diǎn)探測(cè)器,適應(yīng)紫外~中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段;單點(diǎn)探測(cè)器具備很高的動(dòng)態(tài)范圍,一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。掃描式光束分析儀的缺點(diǎn):?多次掃描重構(gòu)光束分布,不適合輸出不穩(wěn)定的激...